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金属微粒和臭氧处理对GIS用盆式绝缘子闪络电压的影响

论文摘要

在SF6气氛中研究金属微粒和臭氧处理对110 kV气体绝缘金属封闭开关(GIS)盆式绝缘子闪络电压的影响。结果表明:绝缘子沿着附着在其表面上的金属微粒发生闪络,闪络痕迹明显。绝缘子未经处理时,闪络电压随金属微粒长度的增加而迅速下降。金属微粒长度增加到8 mm时,闪络电压下降趋势变缓。金属微粒靠近中心导体时,其对绝缘子闪络电压的影响较大。距中心导体0 mm时,闪络电压最小。臭氧处理后的绝缘子与未处理的绝缘子呈现出相似的闪络特性,但处理后的绝缘子闪络电压提高了约18.5%。臭氧处理可以改善绝缘子表面的陷阱特性,加快绝缘子表面电荷消散速率,提高绝缘子的闪络电压。550 k V正极性雷电冲击波无法检测出微小金属微粒的存在,也无法检测出靠近中心导体或稍远区域金属微粒的存在。

论文目录

  • 0 引言
  • 1 试验
  •   1.1 试验系统
  •   1.2 试验方法
  • 2 试验结果与分析
  •   2.1 绝缘子表面闪络
  •   2.2 金属微粒长度和臭氧处理的影响
  •   2.3 金属微粒附着位置和臭氧处理的影响
  •   2.4 绝缘子表面陷阱与闪络特性
  • 3 结论

    • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 杨保利,韩丽娟,郝留成,田浩,钟建英,王亚祥,袁端鹏

    关键词: 盆式绝缘子,金属微粒,臭氧处理,标准雷电波,闪络电压

    来源: 绝缘材料 2019年04期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅱ辑

    专业: 电力工业

    单位: 平高集团有限公司,国家电网高压开关设备绝缘材料实验室

    基金: 国家重点研发计划项目(2017YFB0903800,2017YFB0903803)

    分类号: TM216

    DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2019.04.007

    页码: 33-36+44

    总页数: 5

    文件大小: 1455K

    下载量: 107

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    本文来源: https://www.lunwen66.cn/article/704d908b3431783236c29ec4.html