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掺铝ZnO透明导电膜动态制备及性能研究

论文摘要

采用射频磁控溅射法在玻璃上动态制备高质量的掺铝ZnO(AZO)透明导电膜,研究了动态沉积条件下AZO薄膜的膜厚和电阻率均匀性,以及溅射气压对AZO薄膜结构和光电性能的影响。结果表明:在动态沉积模式下,获得了具有优良膜厚和电阻率均匀性;AZO薄膜在400~800 nm波长范围内的平均透过率高于90%;同时随着溅射气压的增加,晶粒尺寸从47.8 nm逐渐减小到41.4 nm,禁带宽度从3.46 eV逐渐降低到3.40 eV,电阻率先降低后上升,在0.5 Pa时电阻率为最低值1.5×10-3Ω·cm。

论文目录

  • 1 实验材料及方法
  • 2 AZO薄膜均匀性分析
  •   2.1 AZO膜厚均匀性分析
  •   2.2 AZO薄膜电阻率均匀性分析
  • 3 溅射气压的影响
  •   3.1 对薄膜结构的影响
  •   3.2 对薄膜电学性能的影响
  •   3.3 对薄膜光学性能的影响
  • 4 结束语
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 周洪彪,肖昕,袁昭岚

    关键词: 薄膜,射频磁控溅射,动态沉积,溅射气压

    来源: 电子工业专用设备 2019年04期

    年度: 2019

    分类: 信息科技,工程科技Ⅰ辑

    专业: 材料科学

    单位: 中国电子科技集团公司第四十八研究所,湖南红太阳新能源科技有限公司

    分类号: TB383.1;TB306

    页码: 32-36

    总页数: 5

    文件大小: 2038K

    下载量: 107

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    本文来源: https://www.lunwen66.cn/article/86746c92ced10582e7170037.html