掺铝ZnO透明导电膜动态制备及性能研究
论文摘要
采用射频磁控溅射法在玻璃上动态制备高质量的掺铝ZnO(AZO)透明导电膜,研究了动态沉积条件下AZO薄膜的膜厚和电阻率均匀性,以及溅射气压对AZO薄膜结构和光电性能的影响。结果表明:在动态沉积模式下,获得了具有优良膜厚和电阻率均匀性;AZO薄膜在400~800 nm波长范围内的平均透过率高于90%;同时随着溅射气压的增加,晶粒尺寸从47.8 nm逐渐减小到41.4 nm,禁带宽度从3.46 eV逐渐降低到3.40 eV,电阻率先降低后上升,在0.5 Pa时电阻率为最低值1.5×10-3Ω·cm。
论文目录
1 实验材料及方法2 AZO薄膜均匀性分析 2.1 AZO膜厚均匀性分析 2.2 AZO薄膜电阻率均匀性分析3 溅射气压的影响 3.1 对薄膜结构的影响 3.2 对薄膜电学性能的影响 3.3 对薄膜光学性能的影响4 结束语
文章来源
类型: 期刊论文
作者: 周洪彪,肖昕,袁昭岚
关键词: 薄膜,射频磁控溅射,动态沉积,溅射气压
来源: 电子工业专用设备 2019年04期
年度: 2019
分类: 信息科技,工程科技Ⅰ辑
专业: 材料科学
单位: 中国电子科技集团公司第四十八研究所,湖南红太阳新能源科技有限公司
分类号: TB383.1;TB306
页码: 32-36
总页数: 5
文件大小: 2038K
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本文来源: https://www.lunwen66.cn/article/86746c92ced10582e7170037.html