一类偏微分算子组广义次谱的显式上界

论文摘要

借助微分算子谱理论,对一类偏微分算子组低阶离散谱进行估计,利用Laplace算子的运算性质、分部积分、测试函数、 Rayleigh定理和Schwarz不等式等技巧,发现这类算子组主谱与其相应特征向量之间存在的不等式关系,证明所选择的测试函数与主谱、空间维数间的关系,最终获得用主谱来估计次谱上界的一个显式不等式,结果显示其界仅与空间维数有关,而与区域的几何度量无关,其结论是参考文献结论的进一步推广。

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类型: 期刊论文

作者: 黄振明

关键词: 偏微分算子组,广义次谱,变分法,特征向量,显式上界

来源: 武夷学院学报 2019年06期

年度: 2019

分类: 社会科学Ⅱ辑,基础科学

专业: 数学

单位: 苏州市职业大学数理部

分类号: O175.3

DOI: 10.14155/j.cnki.35-1293/g4.2019.06.009

页码: 43-46

总页数: 4

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本文来源: https://www.lunwen66.cn/article/924e814d86115a9d80740696.html