采用第一性原理的计算方法研究GeSe纳米片结构掺杂Ⅴ和Ⅶ族元素对其电子结构、形成能和跃迁能级的影响.结果表明:无论是掺杂Ⅴ族还是Ⅶ族元素,体系的形成能均随杂质半径的增加而增加.Ⅴ族元素掺杂体系的跃迁能级随杂质原子半径的增加而降低,而Ⅶ元素掺杂的体系却随杂质原子半径的增加而增加.其中,F、Cl、Br和I的掺杂为n型施主浅能级杂质,而N、P和As掺杂为p型受体深能级杂质.为相关的实验研究提供了理论参考.
类型: 期刊论文
作者: 熊宗刚,杜娟,张现周
关键词: 单层,杂质态,第一性原理计算
来源: 计算物理 2019年06期
年度: 2019
分类: 基础科学,工程科技Ⅰ辑
专业: 材料科学
单位: 河南师范大学物理与材料科学学院
基金: supported by The High Performance Computing Center of Henan Normal University
分类号: TB383.1
DOI: 10.19596/j.cnki.1001-246x.7961
页码: 733-741
总页数: 9
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本文来源: https://www.lunwen66.cn/article/9f4cbcee7bc06c8a1fad2791.html