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基于非线性维纳过程的末制导炮弹控制舱光耦贮存寿命评定

论文摘要

以光耦的漏电流参数为刻画对象,使用维纳过程对其进行描述。但使用维纳过程描述不同光耦漏电流退化的个体性差异,以及漏电流非线性数据的处理以及明确失效阈值的缺乏,是目前亟待解决的问题。对线性维纳过程进行了改进,建立了随机变量阿伦尼乌斯方程,以对漂移系数λ进行随机化处理,其次利用时间-尺度变换公式解决了非线性数据转变为线性数据的问题,最后使用两步极大似然估计对参数进行估计。针对缺乏明确失效阈值的问题,设立了游动阈值对可靠度进行了讨论。最终评定在长储环境下光耦的t0. 9为25. 4年至27. 5年。

论文目录

  • 1 基于随机变量的加速模型的构建
  •   1.1 漏电流维纳过程建模面临的重点
  •   1.2 基于随机变量的加速模型
  • 2 步进应力条件下基于维纳过程的数据描述与非线性退化数据的建模
  •   2.1 步进应力加速退化试验数据统计模型
  •   2.2 非线性退化数据的建模
  • 3 可靠度函数的求解
  •   3.1 两步极大似然估计法
  •   3.2 阈值与可靠度曲线
  • 4 结论

    • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 张烜工,穆希辉

    关键词: 光电耦合器,贮存可靠性,维纳过程,随机变量阿伦尼乌斯方程,时间尺度变换

    来源: 兵器装备工程学报 2019年04期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅱ辑

    专业: 武器工业与军事技术

    单位: 陆军工程大学石家庄校区弹药工程系,陆军研究院特种勤务研究所

    基金: 高过载条件下复杂机电设备贮存寿命评估(61471385)

    分类号: TJ413.6

    页码: 75-78+131

    总页数: 5

    文件大小: 159K

    下载量: 87

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    本文来源: https://www.lunwen66.cn/article/da664a854366d6c107a10c05.html