LTCC基板生产中,生瓷片的形变将影响叠片时通孔以及印刷图形的对位精度。本文着重对填孔,整平,印刷工序进行分析,通过对同层的多张生瓷片进行精度测量,获得生瓷片偏差数据,结合以上三道工序的生产技术特点,进行综合分析,研究影响生瓷片形变的因素。在生产过程中,根据形变量对精度进行补偿,提高了叠片精度。
类型: 期刊论文
作者: 杨伟,马其琪,贾少雄
关键词: 技术,生瓷片,形变,对位精度
来源: 山西电子技术 2019年02期
年度: 2019
分类: 信息科技,工程科技Ⅰ辑
专业: 无机化工
单位: 中国电子科技集团公司第二研究所微组装中心
分类号: TQ174.1
页码: 27-29+78
总页数: 4
文件大小: 183K
下载量: 65
本文来源: https://www.lunwen66.cn/article/dd78d22da89dfc01b43b53f7.html