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基于标准探测器的硅单光子雪崩探测器探测效率测量

论文摘要

针对硅单光子雪崩探测器探测效率高准确度测量的需要,建立了一套溯源至标准探测器的硅单光子探测器探测效率测量装置。首先通过大动态范围高精度衰减产生光子数已知的准单光子源来校准探测器的探测效率,其次对影响探测效率测量的后脉冲概率和死时间进行了分析与测量,最后系统分析了各测量不确定度的来源,实现了硅单光子雪崩探测器在632.8nm波长处探测效率测量不确定度达到0.6%(k=2)。该装置采用超连续谱光源与单色仪组合输出单色光源,结合标准探测器,可根据需要实现硅单光子雪崩探测器宽波段内的探测效率自动化测量。

论文目录

  • 0 引言
  • 1 测量模型
  • 2 测量装置与过程
  •   2.1 测量装置
  •   2.2 入射光子数Nin测量
  •   2.3 后脉冲概率Paf与死时间τdead测量
  • 3 测量结果与测量不确定度分析
  • 4 结论

    • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 刘长明,史学舜,张鹏举,庄新港,刘红博

    关键词: 硅单光子雪崩探测器,探测效率,后脉冲,死时间,标准探测器

    来源: 光子学报 2019年12期

    年度: 2019

    分类: 基础科学

    专业: 物理学

    单位: 中国电子科技集团公司第四十一研究所,国防科技工业光电子一级计量站

    基金: 国家重点研发计划(No.2018YFB0504602),国防技术基础项目(Nos.JSJL2016210C002,JSJL2018210C003)~~

    分类号: O572.212;O572.31

    页码: 46-52

    总页数: 7

    文件大小: 407K

    下载量: 185

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    本文来源: https://www.lunwen66.cn/article/fd047a92be996ea34a401038.html