• 自相关分析法用于电离层TEC的内插评估

    自相关分析法用于电离层TEC的内插评估

    论文摘要基于2004年实测数据的统计分析,将自相关分析法用于电离层TEC的缺值内插,并进行精度评估.采用上海地区GPS综合应用网和中国地壳运动GPS监测网数据,解算成电离层垂直...