• CAPIS技术探测波前畸变的实验研究

    CAPIS技术探测波前畸变的实验研究

    论文摘要计算光场自适应光学成像(CAPIS)技术能够同时记录信号的位置和方向,从光场信息中可得到畸变波前斜率,从而重构波前。研究了CAPIS技术探测光学波前畸变,给出了数值计算...