校准件论文

110 GHz可溯源的On-wafer GaAs基Multi-TRL校准标准件研制
论文摘要设计制作了用于1～110GHzOn-wafer散射参数测试系统自校准的GaAs基Multi-TRL校准标准件。主要验证了Multi-TRL校准标准件设计的正确性;经过与...